Les formations de la Sfµ

  • Formation "CRYO-COUPES et IMMUNOMARQUAGE" - Débutants et avancés - Paris (France)

    Du 04 au 08 mars 2019

    Formation organisée sur la plate-forme d’imagerie ImagoSeine de l’Institut Jacques Monod, avec le soutien de la Sfµ (société française des microscopies, de l’infrastructure Française de Biologie Structurale Intégrative, (FRISBI)  et de  l’infrastructure nationale France Bio Imaging (FBI) 

    Nombre de participants : 12 maximum (niveau 1), 6 (niveau 2) 
    Durée : du lundi 4 mars à 14h au vendredi 8 mars à 12h
    Public : étudiants, postdocs, ingénieurs,débutants ou expérimentés                                   

    Les repas de midi et un repas du soir sont pris en charge par l’organisation de la formation. L’hébergement et le voyage sont à la charge des participants.

    Date limite d’inscription : 22 février 2019

    Procédure :

    1. Merci d’envoyer une demande d’inscription accompagnée d’une lettre de motivation à :
    Danièle Spehner (spehner@igbmc.fr) - Marie Christine Poterszmann (pmarie@igbmc.fr) - Jean-Marc Verbavatz (jean-marc.verbavatz@ijm.fr)

    2. Une fois la demande validée, vous pouvez vous inscrire sur l'Espace de gestion Sfµ

    Cette formation bénéficie du soutien de FRISBI, de FBI, de la Sfµ et des sociétés RMC, Eden, Diatome, Leica et AURION.

    [Télécharger le programme]

  • CrystElec 2018 - Ecole de Cristallographie Electronique - CRISMAT - Caen (France)

    Du 05 au 09 février 2018

    La deuxième édition de l'école de cristallographie électronique organisée par la Sfµ s'est déroulée au laboratoire CRISMAT de Caen, du 5 au 9 février 2018.

    L'école porte sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique dans un microscope électronique en transmission (MET). Elle concerne en particulier les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et/ou d’analyse des données telle que la précession, la tomographie et la cartographie d'orientation. Les méthodes d'analyse de symétrie en faisceau convergent seront également présentées.


    [En savoir plus]
  • Ateliers Formation Sfmu 2017 - Bordeaux - Bordeaux (France)

    Du 03 au 04 juillet 2017

    • Atelier 1 : NANO INDENTATION IN SITU DANS LE MEB
    • Atelier 2 : DIFFRACTION ÉLECTRONIQUE EN PRÉCESSION ET MODE TOMOGRAPHIE (PEDT)
    • Atelier 3 : CRYO-MICROSCOPIE EN FILMS MINCES
    • Atelier 4 : SUPER-RESOLUTION ET SINGLE MOLECULE TRACKING
    • Atelier 5 : MICROSCOPIE CORRÉLATIVE POUR CULTURE ADHÉRENTES
    • Atelier 6 : IMMUNOMARQUAGE SUR CRYOCOUPES – LA TECHNIQUE DE TOKUYASU


  • Ateliers de formation Sfµ 2015 - Nice - Nice (France)

    Du 29 au 30 juin 2015

    • Atelier 1 : Préparation d’échantillons pour la microscopie électronique en transmission par polissage mécanique en biseau
    • Atelier 2 : Cathodoluminescence
    • Atelier 3 : Ultra Microtomie
    • Atelier 4 : Imagerie tridimensionnelle d’échantillons biologiques macroscopiques et microscopiques par deux approches libres à feuille de lumière


  • Journée FRSV GDR 2588 Sfµ : "Microscopie en Physique et et Biologie" - Lille (France)

    Le 26 mars 2010

    La Journée microscopie biologie et physique, thème : "microscopie multi-échelle" s’est tenue à Lille le 26 mars 2010.

    La microscopie est utilisée par un ensemble de communautés (biologiste, physiciens, chimistes, cristallographes, minéralogistes, spécialistes des matériaux, spectroscopistes…) souvent avec des problématiques communes, par exemple : comment obtenir le maximum d’informations des échantillons sans les endommager. Le but de cette première journée est de favoriser les rencontres entre microscopistes de différentes communautés. Elle a pour thème la microscopie multiéchelle. Elle sera suivie de journées présentant de nouvelles thématiques, la prochaine aura lieu à Lyon avec pour thématique l’échelle nanoscopique.

    Programme et abstractscliquez ici

    Téléchargez les présentations de la journéecliquez ici

    Soutien financier : Elexience, FEI, Gatan, Optics-Concept, Oxford Instruments SA, Zeiss.

     



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