Les offres de postes



2 post-docs au CEMES en MET avancée des oxydes fonctionnels

Entreprise/Labo : CEMES-CNRS / Toulouse

Description :

Post-Doc 1- We are looking for a resourceful postdoctoral research scientist to join the team at CEMES-CNRS working on transmission electron microscopy of functional oxides (MEM group, in collaboration with the I3EM group) and within an international project between France and Germany. Our aim is to develop a detailed understanding of the physics of oxide ferroelectrics when integrated at the nanoscale on a semiconductor platform examining their characteristics at the atomic scale with transmission electron microscopy-based methods (HAADF/ABF/EELS).

Post-Doc 2- We are looking for a resourceful postdoctoral research scientist to join the team at CEMES-CNRS working on the development of in-situ and operando electron holography experiments (I3EM group). Our aim is to operate microelectronic components within the electron microscope whilst measuring the resulting electric, magnetic and strain fields at the nanoscale. The key to these experiments is specimen preparation by focussed ion-beam (FIB) and their electrical contact to specially designed lift-out grids. 

/

Post-Doc 1- Le/La candidat(e) retenu(e) rejoindra l’équipe du CEMES-CNRS à Toulouse qui travaille sur la microscopie électronique en transmission d’oxydes fonctionnels (groupe MEM en collaboration avec le groupe I3EM) et le projet ANR franco-allemand FEAT. L’objectif est de développer la compréhension fine de la physique des oxydes ferroélectriques lorsqu’ils sont intégrés à l’échelle nanométrique sur un substrat semiconducteur en déterminant leurs caractéristiques à l’échelle atomique avec les méthodes de la microscopie électronique en transmission (HAADF/ABF/EELS).

Post-Doc 2- Le/La candidat(e) retenu(e) travaillera sur le développement d'expériences d'holographie électronique in situ et operando au sein du groupe I3EM du CEMES-CNRS à Toulouse. L'objectif est de mesurer les champs électriques, magnétiques et de contrainte à l'échelle nanométrique en microscopie électronique sur des composants microélectroniques en fonctionnement. Une des clefs de ces expériences est la préparation d'échantillon par faisceau ionique focalisé (FIB) et leur contactage électrique à des supports spécialement conçus.



Contact : Sylvie Schamm-Chardon (Post-Doc 1), Martin Hytch (Post-Doc 2)
En savoir plus : Cliquez ici

Télécharger le fichier en PDF

Retour à la liste des offres de postes

En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l’utilisation de cookies pour réaliser des statistiques de visites.